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普洱透射电子显微镜和扫描电子显微镜不同点的原因

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透射电子显微镜(透射式扫描电子显微镜,透射式SEM)和扫描电子显微镜(SEM)是两种不同的电子显微镜,它们在成像原理、样品制备和分析方面存在很大的差异。下面我们将详细探讨这两种电子显微镜的不同点。

透射电子显微镜和扫描电子显微镜不同点的原因

1. 成像原理

透射电子显微镜和扫描电子显微镜的成像原理不同。透射式扫描电子显微镜通过透过样品的光线来成像,样品中的电子被光子激发,然后电子通过探测器形成一个图像。扫描电子显微镜使用高能电子束撞击样品,将电子信息转换为图像。

2. 样品制备

透射电子显微镜需要进行样品制备,将样品放置在真空条件下,使用扫描电极扫描样品表面。扫描电极会在样品表面形成一个预定图案,然后扫描电子显微镜通过透射样品的光线将图案成像。透射式扫描电子显微镜对样品的制备要求较高,需要使用特殊的样品制备技术。

扫描电子显微镜可以在多种样品制备技术上工作,如使用金属薄膜或碳薄膜作为样品制备膜,或使用高能电子束进行样品制备。 扫描电子显微镜还可以使用电离器或化学腐蚀等技术来改变样品的表面形貌,以获得不同的成像效果。

3. 分析方法

透射电子显微镜和扫描电子显微镜的分析方法也有所不同。透射式扫描电子显微镜通过分析透射光线形成的图像来提取样品的电子信息,然后使用计算机分析这些信息以获得有关样品结构、形态和成分的信息。扫描电子显微镜则通过分析高能电子束与样品相互作用产生的二次电子、退火辐射等信号来提取样品表面的电子信息。

扫描电子显微镜的分析方法包括能量分析、元素分析、形貌分析等。能量分析可以确定样品中的元素类型和分布,元素分析可以确定样品中的元素含量。形貌分析可以确定样品的表面形貌和成分分布。

4. 优缺点

透射电子显微镜和扫描电子显微镜各有优缺点。透射式扫描电子显微镜的优点是对样品的制备要求较低,可以观察到更真实的样品。透射式扫描电子显微镜的成像速度较慢,分析方法相对复杂。

扫描电子显微镜的优点是成像速度快,分析方法简单。扫描电子显微镜需要更高的样品制备要求和更复杂的分析方法,因此成本较高。

透射电子显微镜和扫描电子显微镜在成像原理、样品制备和分析方法等方面存在很大的差异。透射式扫描电子显微镜和扫描电子显微镜各有优缺点,需要根据具体的应用需求选择合适的电子显微镜。

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